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ITO/Rubrene表面及界面的AFM和XPS研究
XPS Rubrene 化学位移 界面态
2014/3/16
采用原子力显微镜（AFM）和X射线光电子能谱仪（XPS）研究了氧化铟锡（ITO）/红荧烯（Rubrene）的形貌和表面、界面的电子态。AFM结果显示，ITO上的Rubrene膜有良好的均匀性。XPS结果表明:C1s谱有3个峰，位于282.50，284.70，289.30 eV，对应于C—Si、C O和C—C键。用氩离子束溅射表面，芳香碳对应的峰值逐渐增大，其他两个峰值迅速消失。随着表面O污染的去除...
采用深度刻蚀与XPS能谱研究缓蚀膜／镀铜层／铁基体界面成分
XPS 深度刻蚀 缓蚀膜
2009/10/30
为了探索焦磷酸盐镀铜层与铁基体结合强度差的原因，采用波谱技术，分析了纵向界面各种元素的成分变化，讨论了金属基体表面粗糙度对元素分布的影响。根据刻蚀时间可将膜层分为三部分：N，O量迅速减少的表面层，有基本固定组成的中间层和占一半厚度的出现基体元素的混合干扰层。通过对后期混合层中氧含量的分析，可得出镀铜层／铁基体界面含氧层的存在是影响电镀层与基体结合强度的主要原因的结论。
毛竹材表面光化降解的FTIR和XPS分析
竹材 光化降解 木质素 傅里叶变换红外光谱
2009/10/28
竹材光变色和光化降解过程比较复杂。该文以我国资源丰富的毛竹为研究对象，利用氙光衰减仪对竹材进行表面劣化处理，采用傅里叶变换红外光谱(FTIR)和X射线光电子能谱分析(XPS)对竹材表面化学组成和结构的变化进行表征。XPS测试结果表明，竹材表面光劣化处理后其O元素含量及氧碳比(O/C)明显增加;从C原子结合形式来看，C1(C—C)含量减少，C2(C—O)含量增加，C3(CO)和C4(OCO)含量增加...
CdTe太阳电池背接触层的XPS研究
CdTe太阳电池 光电子能谱 ZnTe/ZnTe∶Cu多晶薄膜
2009/10/26
采用共蒸发法在不同条件下制备了ZnTe和ZnTe∶Cu多晶薄膜，通过XRD和XPS研究了它们的结构和各元素的浓度分布。结果表明，不同衬底温度下沉积的薄膜，结构无明显变化，利用XPS溅射剖析获得了薄膜中各成分浓度随溅射时间变化的分布图，发现不同条件下制备的薄膜，溅射速率不同，各成分随溅射时间的变化也不相同。薄膜中Cu的浓度随溅射时间增加而快速增加，并达到一极大值，然后快速下降。根据Cu浓度的变化研究...
ZnTe(ZnTe∶Cu)多晶薄膜的XPS研究
ZnTe多晶薄膜 光电子能谱 退火 CuxTe
2009/5/8
用共蒸发法在室温下制备了ZnTe及ZnTe∶Cu多晶薄膜，测量了电导率温度曲线，发现不掺杂的ZnTe薄膜的暗电导随温度的增加而线形增加，呈常规的半导体材料特征;掺Cu的ZnTe薄膜在温度较低时，lnσ随温度升高而缓慢增加，随后缓慢降低，达到一极小值，当温度继续升高时又陡然增加，呈现异常现象。用XPS研究了N2气氛下退火前后表面状态，发现不掺Cu的ZnTe薄膜呈现富Te现象。掺Cu后Te氧化明显，以...
P110钢CO2腐蚀产物膜的XPS分析
XPS CO2腐蚀 腐蚀产物膜 P110钢
2010/2/4
为了确定CO2腐蚀产物膜的组成及不同层次结构中成分和含量的差异，采用P110钢在高温高压腐蚀静态釜中制备CO2腐蚀产物膜，利用SEM观察了腐蚀产物膜的表面和断面形貌，结合XRD分析结果，通过XPS研究了两层结构膜的化学组成差异。结果表明，腐蚀产物膜断面呈现双层结构;膜层的主要成分是FeCO3， 还有少量的CaCO3和铁的氧化物，但内层CaCO3较多且夹杂着Fe3C和单质Fe，外层氧化物稍多;通过内...