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搜索结果: 1-4 共查到nanometer-scale相关记录4条 . 查询时间(0.086 秒)
For surface analyses of semiconductor devices and various functional materials, it has become indispensable to analyze valence states at nanometer scale due to the rapid developments of nanotechnology...
Characterization of the Physical Properties of Model Membranes at the Nanometer Scale with the Atomic Force Microscope.
Compositionalpro?lesacrosshostareasweremeasuredtohelpinterprettheunexpected chemistriesofthenanometer-scalediscs.Apro?leacrosstheprecipitate-freezonebetween acoarsehornblendelamellaandagroupofnanome...

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