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搜索结果: 1-2 共查到光学工程 K-SVD相关记录2条 . 查询时间(0.062 秒)
为实现MEMS微结构周期运动过程中平面运动位移测量及其动态特性参数的高分辨力测量,本文针对频闪成像技术获得的微结构运动图像序列,提出一种基于相位相关技术与奇异值分解技术相结合的亚像素测量方法。该方法通过相位相关技术将图像的空间坐标转换为频域坐标的参数空间,然后通过奇异值分解技术处理得到的相关矩阵,最后利用最小二乘法线性拟合,得到物体水平位移的亚像素测量结果。实验结果表明,用该方法测量MEMS微结构...
粉质化是影响苹果等级的重要口感参数。采用高光谱散射图像进行了苹果粉质化的无损检测研究。利用奇异值分解方法对样本600~1 000 nm共81个波长20 mm范围内的散射图像进行奇异值分解,将获得的奇异值作为粉质化表征参数,结合偏微分最小二乘判别分析建立苹果粉质化分类模型。结果显示,对不同产地和不同储藏条件下的样本,其两分类模型(粉质化和非粉质化)的分类精度为76.1%~80.6%,优于平均值特征提...

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