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由于现有TAM(Test Access Mechanism)结构中,被测IP(Intellectual Property)核都是固定地连接在某些TAM总线上,经常会导致测试资源浪费,故提出了可切换式TAM结构.某些IP核通过切换电路挂接在多组TAM上,可以使用多组TAM来完成对一个IP核的测试,减少了空闲时间,缩短了测试用时.按特定的排序规则,采用0-1规划先给每个IP核分配一组TAM,再采用一种...